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三维重构成像X射线显微镜

图片简介:

仪器设备名称:三维重构成像X射线显微镜
型号规格 MICROXCT-400 国别厂家 美国Xradia公司 启用日期 2011.10
负责人 方全堂 设备放置地点 国重B109 联系电话 83032683
技术指标
  1. X光源的最大功率为10W,最大允许电压140KV;
  2. 配套有三种不同放大倍数镜头,4X、10X、20X;
  3. 理论最大分辨率为1μm;
  4. CCD最大分辨率2048*2048;
  5. 载物台旋转角度-180℃~180℃,最大承重15kg;
  6. 测试样品直径小于500mm,高度小于400mm。
功能用途

功能:通过让X射线从不同方向穿过被扫描的样品,利用特定探测装置测量X射线沿着不同辐射路线的穿透量,从而获得物体各个断面的图像(投影数据),再根据图像重构算法由样品的投影数据建立样品内部断层图像,从而获得样品内部结构。

系统特征:
  1. 利用计算机控制X光断层扫描技术获取岩石内部结构;
  2. 具有极高的三维空间分辨率(理论最高分辨率<1μm);
  3. 空间分辨率与样品尺寸不直接相关;
  4. 具有较好的衬度,可分辨低原子序数的材料。